Нано 3D оптический профилометр поверхности SuperView W3
Профилометр оптический 3D поверхности SuperView W3 представляет собой идеальный прибор для субнанометровых измерений различных прецизионных деталей. В основе его работы лежит технология интерферометрии белого света, которая в сочетании с прецизионным сканирующим модулем по оси Z и алгоритмами 3D моделирования позволяет бесконтактно сканировать поверхность объекта и строить её трёхмерное изображение.
После обработки и анализа 3D изображения программным обеспечением XtremeVision получается ряд 2D и 3D параметров, объективно отражающих качество поверхности измеряемого объекта.
SuperView W3 представляет собой удобный в использовании прецизионный оптический прибор с расширенными аналитическими функциями для определения всех видов параметров формы поверхности и шероховатости. Благодаря уникальной системе освещения он способен измерять различные прецизионные детали как с гладкой, так и с шероховатой поверхностью.
Технические характеристики:
| Модель | SuperView W3 |
| Габариты | 1000×900×1550 мм |
| Вес | 500 кг |
| Источник света | Светодиод белого света |
| Видеосистема | 1024×1024 |
| Объектив | 10X (опционально: 2.5X, 5X, 20X, 50X, 100X) |
| Оптическое увеличение | 0.5X (опционально: 0.375X, 0.75X, 1X) |
| Стандартное поле зрения | 0.98×0.98 мм |
| Револьверная головка | Моторизованная на 5 объективов |
| Размер столика XY | 450×450 мм |
| Рабочий ход столика XY | 300×300 мм |
| Грузоподъемность | 10 кг |
| Управление столиком | Моторизованное |
| Наклон столика | ±5° (моторизованный) |
| Рабочий ход по оси Z | 100 мм |
| Управление по оси Z | Моторизованное |
| Диапазон сканирования по Z | 10 мм |
| Разрешение по оси Z | 0.1 нм |
| Повторяемость шероховатости (RMS) | 0.005 нм |
| Точность высоты ступени | 0.3% |
| Повторяемость высоты ступени | 0.08% (1σ) |