Полево-эмиссионный сканирующий электронный микроскоп KYKY EM8200
Сверхвысокое разрешение полевого эмиссионного сканирующего электронного микроскопа KYKY-EM8200 с новой электронно-оптической конструкцией. В основе технологии лежит декаeleration столик для образцов, новое поколение низкоаберрационных объективных линз, Inlens детектор и другие технологии, а также интегрированы расширенные функции обработки изображений, что предоставляет новые решения для пользователей в новых отраслях, таких как энергетика и полупроводниковая промышленность.
Высокое разрешение электронно-оптической системы
Высокопроизводительная система детектирования сигналов
Эффективный и удобный пользовательский интерфейс
Технические характеристики:
| Разрешение |
0,8 нм при 15 кВ
|
| Увеличение |
1× - 3 000 000× |
| Электронная пушка | Термоавтоэмиссионная пушка Шоттки |
| Ускоряющее напряжение | 0,2-30 кВ |
| Тип столика |
Пятиосевой столик |
| Параметры образца |
Максимальный диаметр: Ø320 мм Максимальная высота образца: 90 мм |