Каталог оборудования

Ультразвуковой дефектоскоп Omniscan X3

OmniScan X3 – полностью усовершенствованный современный дефектоскоп на фазированных решетках. Мощные инструменты, такие как метод общей фокусировки (TFM) и улучшенные средства визуализации, позволяют с уверенностью выполнить контроль.

Иновационный TFM

Высокое разрешение изображений позволяет обнаружить мельчайшие дефекты
Выявление высокотемпературного водородного растрескивания (HTHA) на ранних стадиях,
когда это действительно важно
Карта акустического воздействия (AIM) позволяет
визуализировать чувствительность TFM и соответственно настраивать ее
До 4-х режимов TFM упрощает измерение и оценку дефектов

Улучшенная технология ФР

В 2 раза быстрее дефектоскопа OmniScan MX2 (частота повторения импульсов)
Одно меню TOFD для ускоренной работы
Улучшенная и быстрая калибровка ФР — Никакого стресса!
Диапазон высоких амплитуд 800% снижает необходимость повторного сканирования
Встроенная поддержка преобразователей Dual Linear Array™ и Dual Matrix Array™ ускоряет процесс настройки

Надежность

Степень защиты IP65: защита от дождя и пыли
Встроенный GPS для определения местоположения данных
Возможность беспроводного подключения к Olympus Scientific Cloud™ для загрузки и установки последней версии ПО
Непрерывное сканирование благодаря максимальному размеру файла 25 ГБ

Главный инструмент парка оборудования

Дефектоскоп OmniScan™ X3 имеет все необходимые инструменты для эффективного выполнения работы. Широкий спектр применения включает: диагностику сварных швов, трубопроводов, труб, коррозионно-стойких сплавов, коррозионный мониторинг, контроль высокотемпературного водородного растрескивания, выявление ступенчатого растрескивания, контроль композиционных материалов и многое другое.

Совместим с существующими преобразователями и сканерами
Модель 32:128PR, TFM 64-элемента
Также доступны 16:64PR и 16:128PR
До 8 групп, 1 024 законов фокусировки
Совместим с файлами MX2/SX
Внутренний твердотельный SSD-накопитель (64 ГБ), расширяемый с помощью внешнего USB-накопителя;

До 4-х режимов TFM упрощает измерение и оценку дефектов

Использование разных режимов TFM (групп волн) в ходе одного контроля дает больше шансов выявить дефекты с нетипичной ориентацией. Дефектоскоп OmniScan X3 с возможностью использования до 4-х режимов TFM одновременно позволяет генерировать изображения под разными углами. Чувствительность и характеристики каждого режима (такие как, дифракция на концах дефекта, «угловой отражатель» и профиль дефекта) могут использоваться одновременно для подтверждения типа дефекта и более точного определения его размеров.

Обзор области сканирования

Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя.

Инструмент AIM позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, план сканирования.

Готовность к работе

Средства визуализации позволяют задать план сканирования до начала контроля.

Возможность создания плана сканирования, включая зону TFM.
Одновременная конфигурация нескольких групп и преобразователей
Улучшенные средства калибровки и настройки

Используйте всю мощь вашего ПК

Программное обеспечение OmniPC^™ включает широкий спектр инструментов, включая параллельное представление данных (бок о бок). Данная функция позволяет сравнивать два файла на одном экране, максимально используя возможности ПК при анализе данных.